Сравнительный анализ различных методов искусственной деградации светоизлучающих диодов, применяемых для прогнозирования их срока службы

Simple item page
dc.contributor.authorБобученко, Д. С.ru
dc.contributor.authorТрофимов, Ю. В.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2018-06-27T12:21:00Z
dc.date.available2018-06-27T12:21:00Z
dc.date.issued2017
dc.identifier.citationБобученко, Д. С. Сравнительный анализ различных методов искусственной деградации светоизлучающих диодов, применяемых для прогнозирования их срока службы / Д. С. Бобученко, Ю. В. Трофимов // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 3. - С. 464.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/42895
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleСравнительный анализ различных методов искусственной деградации светоизлучающих диодов, применяемых для прогнозирования их срока службыru
dc.typeWorking Paperru

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
464.pdf
Size:
815.47 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download

Collections

Материалы конференции по статьям