Метод магнитоимпульсного контроля дефектов сплошности в объектах из диа- и парамагнитных металлов с помощью магнитного носителя

Abstract

Представлены экспериментальные зависимости величины электрического напряжения U(t), снимаемого с индукционной магнитной головки при сканировании ею магнитного носителя с записями магнитных полей искусственных дефектов сплошности в пластинах из алюминия толщиной от 1,5·10-5 до 3,0·10-3 м. Напряженность импульсов первичного магнитного поля, создаваемого плоским индуктором, изменялась в диапазоне (2-50)·103 А/м. Время нарастания импульсов с выбросами поля было в интервале (1,5-100)·10-6 с. Разработан метод контроля объектов из электропроводящих материалов, обеспечивающий оптимальные геометрические размеры индуктора, амплитуду, направления, время нарастания, форму переднего и заднего фронта основного импульса поля, а также амплитуду, время нарастания, число и полярности выбросов поля с осуществлением операций сглаживания, вычисления, выделения полезного сигнала с исключением сигнала фона и распознания записанной на магнитном носителе информации путем сравнения полученных распределений сигналов с эталонными или расчетными при установлении сигналов минимальных дефектов. Метод позволяет повысить в несколько раз точность и скорость контроля.