Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия
Loading...
Files
Authors
item.page.other-contributor
item.page.advisors
item.page.editors
Date
Publisher
item.page.issn
item.page.isbn
item.page.depon
item.page.diss
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
item.page.title-alternative
Abstract
Предложен новый метод электронно-микроскопического наблюдения и микрорентгеноспектрального анализа латунированной заготовки, который позволяет проводить детальные исследования на микроуровне различных параметров.
item.page.description-other
Description
Citation
Куренкова, Т. П. Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия / Т. П. Куренкова, В. И. Возная // Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2010. – № 3 (56). – С. 110 - 114.