Метод контроля времени жизни неравновесных носителей заряда из измерений фототока полупроводниковых структур

dc.contributor.authorСопряков, В. И.ru
dc.contributor.authorПолещук, П. А.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2020-01-03T08:11:49Z
dc.date.available2020-01-03T08:11:49Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.citationСопряков, В. И. Метод контроля времени жизни неравновесных носителей заряда из измерений фототока полупроводниковых структур / В. И. Сопряков, П. А. Полещук // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 29-30.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/62048
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleМетод контроля времени жизни неравновесных носителей заряда из измерений фототока полупроводниковых структурru
dc.typeWorking Paperru

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
29-30.pdf
Size:
494.93 KB
Format:
Adobe Portable Document Format