Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин

Simple item page
dc.contributor.authorТявловский, А. К.ru
dc.contributor.authorЖарин, А. Л.ru
dc.contributor.authorГусев, О. К.ru
dc.contributor.authorВоробей, Р. И.ru
dc.contributor.authorТявловский, К. Л.ru
dc.contributor.authorПантелеев, К. В.ru
dc.contributor.authorМикитевич, В. А.ru
dc.contributor.authorПилипенко, В. А.ru
dc.contributor.authorПетлицкий, А. Н.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2017-04-04T07:53:56Z
dc.date.available2017-04-04T07:53:56Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citationАлгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 391-393.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/29264
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleАлгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластинru
dc.typeWorking Paperru

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
391-393.pdf
Size:
282.64 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download

Collections

Материалы конференции по статьям