Техника наноконтроля
| dc.contributor.other | Чижик, С. А. | ru |
| dc.contributor.other | Кузнецова, Т. А. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2013-07-08T11:10:19Z | |
| dc.date.available | 2013-07-08T11:10:19Z | |
| dc.date.issued | 2011 | |
| dc.description.abstract | В данном издании приведено продолжение описания лабораторных работ по курсу «Техника наноконтроля» в соответствии с учебной программой для студентов старших курсов, обучающихся по специальности: 1-41 01 01 «Технология материалов и компонентов электронной техники», 1-38 01 04 01 «Микросистемная техника», 1-38 01 04 02 «Наноэлектромеханические системы и машины», 1-38 01 04 03 «Сенсорные микросистемы». Вторая часть охватывает калибровку атомно-силового микроскопа, измерение высоты топологических слоев субмикронных интегральных микросхем и определение локального модуля упругости тонких слоев материала. Часть 1 вышла в свет в 2009 г. в БНТУ. | ru |
| dc.identifier.citation | Техника наноконтроля : лабораторный практикум : в 2 ч. / сост.: С. А. Чижик, Т. А. Кузнецова. – Минск: БНТУ, 2011. – Ч. 2. – 65 с. | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-985-525-537-7 | |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/5101 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Техника наноконтроля | ru |
| dc.title.alternative | Лабораторный практикум: в 2 ч. | ru |
| dc.type | Book | ru |
| dc.type | Learning Object | ru |
Files
Original bundle
1 - 1 of 1
Loading...
- Name:
- Tekhnika_nanokontrolya.pdf
- Size:
- 1.77 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- Полный текст