Лазерные методы контроля качества монтажа полупроводниковых кристаллов
| dc.contributor.author | Волкенштейн, С. С. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2026-03-13T07:29:00Z | |
| dc.date.available | 2026-03-13T07:29:00Z | |
| dc.date.issued | 2009 | |
| dc.identifier.citation | Волкенштейн, С. С. Лазерные методы контроля качества монтажа полупроводниковых кристаллов / С. С. Волкенштейн // Приборостроение-2009 : материалы 2-й Международной научно-технической конференции, 11-13 ноября 2009 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2009. – С. 160-161. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/165945 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Лазерные методы контроля качества монтажа полупроводниковых кристаллов | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
Files
Original bundle
1 - 1 of 1