Автоматизированный базовый лазерный испытательный комплекс для тестирования перспективных видов полупроводниковых фотоприемников
| dc.contributor.author | Залесский, В. Б. | ru |
| dc.contributor.author | Малютина-Бронская, В. В. | ru |
| dc.contributor.author | Сорока, С. А. | ru |
| dc.contributor.author | Ермаков, О. В. | ru |
| dc.contributor.author | Гребенщиков, О. А. | ru |
| dc.contributor.author | Леонова, Т. Р. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2021-02-09T08:18:41Z | |
| dc.date.available | 2021-02-09T08:18:41Z | |
| dc.date.issued | 2020 | |
| dc.identifier.citation | Автоматизированный базовый лазерный испытательный комплекс для тестирования перспективных видов полупроводниковых фотоприемников / В. Б. Залесский [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 391-392. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/86882 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Автоматизированный базовый лазерный испытательный комплекс для тестирования перспективных видов полупроводниковых фотоприемников | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
