| dc.contributor.author | Куренкова, Т. П. | ru |
| dc.contributor.author | Возная, В. И. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2014-06-25T07:02:04Z | |
| dc.date.available | 2014-06-25T07:02:04Z | |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.identifier.citation | Куренкова, Т. П. Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия / Т. П. Куренкова, В. И. Возная // Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2010. – № 3 (56). – С. 110 - 114. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/8345 | |
| dc.description.abstract | Предложен новый метод электронно-микроскопического наблюдения и микрорентгеноспектрального анализа латунированной заготовки, который позволяет проводить детальные исследования на микроуровне различных параметров. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.subject | Электронный микроскоп растровый | ru |
| dc.subject | Латунное покрытие - исследование качества | ru |
| dc.title | Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udc | 669 | ru |
| dc.relation.journal | Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2010. – № 3 (56). | ru |
