Now showing items 1-3 of 3

    • Контроль свойств функциональных слоев микроэлектронных структур 

      Хилько, А. Н.; Фолынсков, Д. И.; Гусев, О. К.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2020)
      Контроль свойств функциональных слоев микроэлектронных структур / А. Н. Хилько [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 13-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 15−17 апреля 2020 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 95.
      2020-06-24
    • Неразрушающий контроль печатных узлов 

      Фолынсков, Д. И.; Тихоновец, Е. С.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И. (БНТУ, 2020)
      Неразрушающий контроль печатных узлов / Д. И. Фолынсков [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 13-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 15−17 апреля 2020 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 87-88.
      2020-06-24
    • Тепловизионный контроль периметра промышленного здания 

      Тихоновец, Е. С.; Фолынсков, Д. И.; Куклицкая, А. Г. (БНТУ, 2020)
      Тихоновец, Е. С. Тепловизионный контроль периметра промышленного здания / Е. С. Тихоновец, Д. И. Фолынсков, А. Г. Куклицкая // Новые направления развития приборостроения : материалы 13-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 15−17 апреля 2020 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – ...
      2020-06-24