Предложен метод управления наноразмерными объектами посредством токопроводящих посредников. В качестве последних могут быть использованы как имеющиеся инденторы атомно-силовых микроскопов, так и токопроводящие или заряженные частицы размеров, сравнимых с размерами управляемых объектов. Взаимодействие (крепление) объектов к посреднику осуществляется за счет силы Ван-дер-Ваальса, ...