Browsing Материалы 16-й конференции. Том 2 by Author "Тявловский, А. К."
Now showing items 1-2 of 2
-
Принципы диагностики дефектов обработки поверхности металлов и диэлектриков зондовым электрометрическим методом
Тявловский, А. К. (БНТУ, 2018)Тявловский, А. К. Принципы диагностики дефектов обработки поверхности металлов и диэлектриков зондовым электрометрическим методом / А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 2. - С. 173.2019-04-26 -
Средства регистрации электрофизических параметров макроскопических поверхностей с наноразмерными дефектами
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2018)Тявловский, А. К. Средства регистрации электрофизических параметров макроскопических поверхностей с наноразмерными дефектами / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 2. - С. 176.2019-04-26