| dc.contributor.author | Головчук, В. И. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2018-04-18T09:01:52Z | |
| dc.date.available | 2018-04-18T09:01:52Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.identifier.citation | Головчук, В. И. Структурные исследования пленок теллурида кадмия, выращенных на подложках монокристаллического теллурида кадмия и кремния / В. И. Головчук // Новые горизонты - 2016 : сборник материалов III Белорусско-Китайского молодежного инновационного форума, 29–30 ноября 2016 года. – Минск : БНТУ, 2016. – С. 184-185. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/40437 | |
| dc.description.abstract | The results of atomic-fource and scan electron microscopy of cadmium telluride films prepared on silicon and cadmium telluride substrates by means of sputtering in cvasi-closed volume are presented. It is shown that roughnes of the films change in the range 34 – 87 nm with mean grain size ranging in the interval 2.5 – 5 μm. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Структурные исследования пленок теллурида кадмия, выращенных на подложках монокристаллического теллурида кадмия и кремния | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
