Now showing items 1-5 of 5

    • Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин 

      Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2016)
      Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 391-393.
      2017-04-04
    • Измерение пространственного распределения высоковольтного электростатического потенциала полимерных материалов цифровым зондом Кельвина 

      Пантелеев, К. В.; Дубаневич, А. В.; Жарин, А. Л.; Кравцевич, А. В.; Шашура, Л. И. (БНТУ, 2016)
      Измерение пространственного распределения высоковольтного электростатического потенциала полимерных материалов цифровым зондом Кельвина / К. В. Пантелеев [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 110-112.
      2017-03-11
    • Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов 

      Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)
      Микитевич, В. А. Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов / В. А. Микитевич, К. В. Пантелеев, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 97-99.
      2017-03-10
    • Моделирование зависимости измерительного сигнала от потенциала компенсации в методе Кельвина–Зисмана 

      Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)
      Пантелеев, К. В. Моделирование зависимости измерительного сигнала от потенциала компенсации в методе Кельвина–Зисмана / К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С.106-108.
      2017-03-10
    • Управление расстоянием между обкладками динамического конденсатора в методе Кельвина–Зисмана 

      Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)
      Пантелеев, К. В. Управление расстоянием между обкладками динамического конденсатора в методе Кельвина–Зисмана / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С.108-110.
      2017-03-10