Browsing Материалы конференции по статьям by Author "Жарин, А. Л."
Now showing items 1-10 of 10
-
Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2016)Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 391-393.2017-04-04 -
Анализ визуализированных изображений распределения электрофизических параметров наноструктурированных поверхностей
Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Мухуров, Н. И. (БНТУ, 2016)Анализ визуализированных изображений распределения электрофизических параметров наноструктурированных поверхностей / О. К. Гусев [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 46-48.2017-03-02 -
Измерение пространственного распределения высоковольтного электростатического потенциала полимерных материалов цифровым зондом Кельвина
Пантелеев, К. В.; Дубаневич, А. В.; Жарин, А. Л.; Кравцевич, А. В.; Шашура, Л. И. (БНТУ, 2016)Измерение пространственного распределения высоковольтного электростатического потенциала полимерных материалов цифровым зондом Кельвина / К. В. Пантелеев [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 110-112.2017-03-11 -
Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов
Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)Микитевич, В. А. Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов / В. А. Микитевич, К. В. Пантелеев, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 97-99.2017-03-10 -
Математическое моделирование взаимодействия электрометрического зонда с неоднородно заряженной поверхностью диэлектрика
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Дубаневич, А. В.; Жуковский, П. (БНТУ, 2016)Математическое моделирование взаимодействия электрометрического зонда с неоднородно заряженной поверхностью диэлектрика / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 393-395.2017-04-04 -
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводниковых пластин
Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводниковых пластин / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 12-14.2017-02-28 -
Моделирование зависимости измерительного сигнала от потенциала компенсации в методе Кельвина–Зисмана
Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)Пантелеев, К. В. Моделирование зависимости измерительного сигнала от потенциала компенсации в методе Кельвина–Зисмана / К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С.106-108.2017-03-10 -
О возможности использования методов сканирующей зондовой электрометрии для определения типа дефектов поверхности металлов
Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Качан, Р. Ф.; Дубаневич, А. В.; Колтунович, Т. (БНТУ, 2016)О возможности использования методов сканирующей зондовой электрометрии для определения типа дефектов поверхности металлов / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 312-313.2017-03-27 -
Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверхностной фотоЭДС
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2016)Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверхностной фотоЭДС / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 52-53.2017-03-06 -
Управление расстоянием между обкладками динамического конденсатора в методе Кельвина–Зисмана
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)Пантелеев, К. В. Управление расстоянием между обкладками динамического конденсатора в методе Кельвина–Зисмана / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С.108-110.2017-03-10