Коммутация испытательных сигналов в системах тестирования полупроводниковых приборов
| dc.contributor.author | Лисенков, Б. Н. | ru |
| dc.contributor.author | Грицев, Н. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2018-02-01T07:58:50Z | |
| dc.date.available | 2018-02-01T07:58:50Z | |
| dc.date.issued | 2017 | |
| dc.identifier.citation | Лисенков, Б. Н. Коммутация испытательных сигналов в системах тестирования полупроводниковых приборов / Б. Н. Лисенков, Н. В. Грицев // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 60-62. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/37153 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Коммутация испытательных сигналов в системах тестирования полупроводниковых приборов | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
