Browsing Приборостроение by Author "Жарин, А. Л."
Now showing items 41-50 of 50
-
Система автоматизированного горизонтирования платформы радиолокационной станции
Гладкий, А. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)Гладкий, А. В. Система автоматизированного горизонтирования платформы радиолокационной станции / А. В. Гладкий, А. Л. Жарин // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 32-33.2018-01-31 -
Сопоставление цифровых и аналоговых методов зондовой электрометрии при исследовании электрофизических свойств поверхности покрытий из пористого анодного оксида алюминия
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Шаронов, Г. В.; Мухуров, Н. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Микитевич, В. А. (БНТУ, 2020)Сопоставление цифровых и аналоговых методов зондовой электрометрии при исследовании электрофизических свойств поверхности покрытий из пористого анодного оксида алюминия / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. ...2021-02-09 -
Тестирование и калибровка измерительного преобразователя электрического потенциала поверхности со статическим зондом
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Самарина, А. В.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2023)Предлагается методика тестирования и калибровка измерительного преобразователя электрического потенциала поверхности со статическим зондом. Процедура калибровки заключается в сравнении сигналов измерительного преобразователя электрического потенциала поверхности при контроле поверхности изделия и эталонного образца. Калибровка достигается изменением положения отсчетного электрода ...2023-12-21 -
Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2015)Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2015. – Т. 1. - С. 167-169.2016-10-04 -
Универсальный цифровой даталоггер-самописец
Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)Микитевич, В. А. Универсальный цифровой даталоггер-самописец / В. А. Микитевич, К. В. Пантелеев, А. Л. Жарин // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 87-88.2018-02-01 -
Универсальный цифровой измеритель для фотостимулированной зондовой электрометрии
Микитевич, В. А.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2018)Микитевич, В. А. Универсальный цифровой измеритель для фотостимулированной зондовой электрометрии / В. А. Микитевич, А. И. Свистун, А. Л. Жарин // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2018. – С. 40-41.2019-04-15 -
Управление расстоянием между обкладками динамического конденсатора в методе Кельвина–Зисмана
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)Пантелеев, К. В. Управление расстоянием между обкладками динамического конденсатора в методе Кельвина–Зисмана / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С.108-110.2017-03-10 -
Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и диффузионных слоев на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм
Свистун, А. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2019)Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и диффузионных слоев на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм / А. И. Свистун [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск ...2020-01-03 -
Характеризация подложек для биологических исследований на основе измерений работы выхода электрона
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Цедик, Л. В. (БНТУ, 2022)Рассмотрено использование метода сканирующего зонда Кельвина для характеризации процессов адсорбции препаратов для биологических исследований на подложке с наноструктурированной поверхностью. Измерения пространственного распределения работы выхода электрона с поверхности до нанесения биологического препарата позволяют характеризовать однородность распределения адгезионных свойств ...2022-12-28 -
Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов сканирующей зондовой электрометрии
Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2022)Рассмотрено применение установки фотостимулированной сканирующей зондовой электрометрии для выявления дефектов ионно-легированных и диффузионных слоев полупроводниковой пластины после операции туннельного окисления, выполненной в различных технологических режимах. Измерения в двух режимах (измерения контактной разности потенциалов и визуализации длины диффузии неравновесных ...2022-12-28