Now showing items 41-50 of 50

    • Система автоматизированного горизонтирования платформы радиолокационной станции 

      Гладкий, А. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)
      Гладкий, А. В. Система автоматизированного горизонтирования платформы радиолокационной станции / А. В. Гладкий, А. Л. Жарин // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 32-33.
      2018-01-31
    • Сопоставление цифровых и аналоговых методов зондовой электрометрии при исследовании электрофизических свойств поверхности покрытий из пористого анодного оксида алюминия 

      Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Шаронов, Г. В.; Мухуров, Н. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Микитевич, В. А. (БНТУ, 2020)
      Сопоставление цифровых и аналоговых методов зондовой электрометрии при исследовании электрофизических свойств поверхности покрытий из пористого анодного оксида алюминия / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. ...
      2021-02-09
    • Тестирование и калибровка измерительного преобразователя электрического потенциала поверхности со статическим зондом 

      Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Самарина, А. В.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2023)
      Предлагается методика тестирования и калибровка измерительного преобразователя электрического потенциала поверхности со статическим зондом. Процедура калибровки заключается в сравнении сигналов измерительного преобразователя электрического потенциала поверхности при контроле поверхности изделия и эталонного образца. Калибровка достигается изменением положения отсчетного электрода ...
      2023-12-21
    • Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина 

      Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2015)
      Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2015. – Т. 1. - С. 167-169.
      2016-10-04
    • Универсальный цифровой даталоггер-самописец 

      Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)
      Микитевич, В. А. Универсальный цифровой даталоггер-самописец / В. А. Микитевич, К. В. Пантелеев, А. Л. Жарин // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 87-88.
      2018-02-01
    • Универсальный цифровой измеритель для фотостимулированной зондовой электрометрии 

      Микитевич, В. А.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2018)
      Микитевич, В. А. Универсальный цифровой измеритель для фотостимулированной зондовой электрометрии / В. А. Микитевич, А. И. Свистун, А. Л. Жарин // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2018. – С. 40-41.
      2019-04-15
    • Управление расстоянием между обкладками динамического конденсатора в методе Кельвина–Зисмана 

      Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)
      Пантелеев, К. В. Управление расстоянием между обкладками динамического конденсатора в методе Кельвина–Зисмана / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С.108-110.
      2017-03-10
    • Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и диффузионных слоев на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм 

      Свистун, А. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2019)
      Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и диффузионных слоев на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм / А. И. Свистун [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск ...
      2020-01-03
    • Характеризация подложек для биологических исследований на основе измерений работы выхода электрона 

      Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Цедик, Л. В. (БНТУ, 2022)
      Рассмотрено использование метода сканирующего зонда Кельвина для характеризации процессов адсорбции препаратов для биологических исследований на подложке с наноструктурированной поверхностью. Измерения пространственного распределения работы выхода электрона с поверхности до нанесения биологического препарата позволяют характеризовать однородность распределения адгезионных свойств ...
      2022-12-28
    • Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов сканирующей зондовой электрометрии 

      Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2022)
      Рассмотрено применение установки фотостимулированной сканирующей зондовой электрометрии для выявления дефектов ионно-легированных и диффузионных слоев полупроводниковой пластины после операции туннельного окисления, выполненной в различных технологических режимах. Измерения в двух режимах (измерения контактной разности потенциалов и визуализации длины диффузии неравновесных ...
      2022-12-28