Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств
| dc.contributor.author | Пантелеев, К. В. | ru |
| dc.contributor.author | Тявловский, А. К. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2017-04-03T08:55:43Z | |
| dc.date.available | 2017-04-03T08:55:43Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.identifier.citation | Пантелеев, К. В. Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 208. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/29249 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
