Browsing Наука и Техника by Author "Белоус, А. И."
Now showing items 1-2 of 2
-
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Солодуха, В. А.; Белоус, А. И.; Чигирь, Г. Г. (БНТУ, 2016)Предложен метод измерения глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин, основанный на использовании оже-спектрометра с прецизионным распылением поверхностных слоев кремния и регистрацией интенсивности выхода оже-электронов. Для измерения глубины нарушенного слоя с помощью оже-спектроскопии снимается зависимость количества выходящих оже-электронов от времени распыления ...2016-07-27 -
Температурно-зависимая модель ионно-легированных резисторов субмикронных биполярных БИС
Белоус, А. И.; Зуйков, И. Е.; Сякерский, В. С.; Русакевич, Д. А. (БНТУ, 2012)Температурно-зависимая модель ионно-легированных резисторов субмикронных биполярных БИС / А. И. Белоус [и др.] // Наука и техника: международный научно-технический журнал. - 2012. - N 2. - С. 24-28.2012-05-29