К измерению скорости поверхностной рекомбинации в тонкослойных полупроводниковых структурах
| dc.contributor.author | Буйко, А. П. | ru |
| dc.contributor.author | Бычик, А. С. | ru |
| dc.contributor.author | Ломтев, А. А. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2016-09-12T11:28:59Z | |
| dc.date.available | 2016-09-12T11:28:59Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.identifier.citation | Буйко, А. П. К измерению скорости поверхностной рекомбинации в тонкослойных полупроводниковых структурах / А. П. Буйко, А. С. Бычик, А. А. Ломтев // Новые направления развития приборостроения : материалы 9-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 20–22 апреля 2016 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – Т. 1. - С. 69-70. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/24885 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | К измерению скорости поверхностной рекомбинации в тонкослойных полупроводниковых структурах | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
