Show simple item record

dc.contributor.authorЖарин, А. Л.ru
dc.contributor.authorПантелеев, К. В.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2016-03-04T08:16:01Z
dc.date.available2016-03-04T08:16:01Z
dc.date.issued2015
dc.identifier.citationЖарин, А. Л. Аппаратно-программный комплекс для неразрушающего контроля скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии / А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 174.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/21715
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleАппаратно-программный комплекс для неразрушающего контроля скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрииru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record