Show simple item record

dc.contributor.authorАлексеев, В. А.ru
dc.contributor.authorПономарева, О. В.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2026-03-12T08:05:10Z
dc.date.available2026-03-12T08:05:10Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationАлексеев, В. А. Основы методологии определения погрешностей измерения вероятностных характеристик случайных процессов процессорными измерительными системами / В. А. Алексеев, О. В. Пономарева // Приборостроение-2010 : материалы 3-й Международной научно-технической конференции, 10–12 ноября 2010 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2010. – С. 144-145.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/165129
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleОсновы методологии определения погрешностей измерения вероятностных характеристик случайных процессов процессорными измерительными системамиru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record