Методика определения электрической проводимости полупроводниковых образцов по результатам бесконтактных микроволновых измерений
| dc.contributor.author | Поклонский, Н. А. | ru |
| dc.contributor.author | Сягло, А. И. | ru |
| dc.contributor.author | Шнитко, В. Т. | ru |
| dc.contributor.author | Меркулов, В. А. | ru |
| dc.contributor.author | Давиденя, М. О. | ru |
| dc.contributor.author | Ковалев, А. И. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2026-03-11T07:54:36Z | |
| dc.date.available | 2026-03-11T07:54:36Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.identifier.citation | Методика определения электрической проводимости полупроводниковых образцов по результатам бесконтактных микроволновых измерений / Н. А. Поклонский, А. И. Сягло, В. Т. Шнитко [и др.] // Приборостроение-2012 : материалы 5-й Международной научно-технической конференции, 21–23 ноября 2012 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2012. – С. 195-197. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/164351 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Методика определения электрической проводимости полупроводниковых образцов по результатам бесконтактных микроволновых измерений | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
