| dc.contributor.author | Длугунович, В. А. | ru |
| dc.contributor.author | Исаевич, А. В. | ru |
| dc.contributor.author | Крейдич, А. В. | ru |
| dc.contributor.author | Круплевич, Е. А. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2026-01-14T07:23:28Z | |
| dc.date.available | 2026-01-14T07:23:28Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.identifier.citation | Установка высокой точности для измерений коэффициентов отражения и оптических потерь высокоотражающих оптических элементов, используемых в лазерной и оптоэлектронной технике = High accuracy facility for measurements of reflectance and optical losses of high reflective optical components used in laser and optoelectronic technology / В. А. Длугунович, А. В. Исаевич, А. В. Крейдич, Е. А. Круплевич // Приборостроение-2025 : материалы 18-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2025 года Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : БНТУ, 2025. – С. 134-136. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/162775 | |
| dc.description.abstract | Описана метрологическая установка высокой точности для измерений коэффициентов отражения и оптических потерь высокоотражающих оптических элементов лазерной и оптоэлектронной техники. В установке используется метод внутрирезонаторного затухания. Она обеспечивает измерение коэффициентов отражения от 98,0000 % до 99,9995 % и оптических потерь от 5∙10-4 % до 2 % в спектральном диапазоне 450–2 000 нм оптических элементов диаметром от 12 до 55 мм при углах падения 0° и от 5° до 45°. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Установка высокой точности для измерений коэффициентов отражения и оптических потерь высокоотражающих оптических элементов, используемых в лазерной и оптоэлектронной технике | ru |
| dc.title.alternative | High accuracy facility for measurements of reflectance and optical losses of high reflective optical components used in laser and optoelectronic technology | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
| local.description.annotation | A high-precision metrological facility for reflectance and optical losses measurements of high reflective optical components used in laser and optoelectronic technology is described. The facility uses the cavity-ringdown method. It provides measurement of high reflectance from 98.0000 % to 99.9995 % and optical losses from 5∙10-4 % to 2 % in the spectral range from 450 nm to 2 000 nm of optical elements of laser and optoelectronic technology with a diameter from 12 mm to 55 mm at incidence angles of 0° and from 5° to 45°. | ru |
