| dc.contributor.author | Мороз, А. С. | ru |
| dc.contributor.author | Фролов, Н. Н. | ru |
| dc.contributor.author | Тявловский, А. К. | ru |
| dc.contributor.author | Ломтев, А. А. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2026-01-14T07:22:46Z | |
| dc.date.available | 2026-01-14T07:22:46Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.identifier.citation | Проблемы и погрешности при применении монолитных интегрированных измерителей сигналов термопар = Problems and errors in the application of monolithic integrated thermocouple signal meters / А. С. Мороз [и др.] // Приборостроение-2025 : материалы 18-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2025 года Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : БНТУ, 2025. – С. 297-298. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/162624 | |
| dc.description.abstract | В данном докладе рассмотрены ключевые проблемы и источники погрешностей, возникающие при использовании монолитных интегрированных измерителей сигналов термопар. Проанализированы влияние паразитных термоэлектрических эффектов, не идеальности встроенного опорного источника, нелинейности аналого-цифрового преобразователя и эффекта самопрогрева кристалла микросхемы. Показано, что для достижения высокой точности необходима комплексная калибровка и учет всех систематических погрешностей. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Проблемы и погрешности при применении монолитных интегрированных измерителей сигналов термопар | ru |
| dc.title.alternative | Problems and errors in the application of monolithic integrated thermocouple signal meters | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
| local.description.annotation | This report examines the key problems and sources of errors that arise when using monolithic integrated thermocouple signal meters. The influence of parasitic thermoelectric effects, the imperfection of the built-in reference source, the nonlinearity of the analog-to-digital converter and the effect of self-heating of the chip crystal are analyzed. It is shown that in order to achieve high accuracy, complex calibration and consideration of all systematic errors are necessary. | ru |
