| dc.contributor.author | Селятыцкий, А. А. | ru |
| dc.contributor.author | Серенков, П. С. | ru |
| dc.contributor.author | Романчак, В. М. | |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2026-01-14T07:22:43Z | |
| dc.date.available | 2026-01-14T07:22:43Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.identifier.citation | Селятыцкий, А. А. Комбинированный метод определения межповерочного интервала средств измерений = C combined method for determining the verification interval measuring instruments / А. А. Селятыцкий, В. М. Серенков,П. С.Романчак // Приборостроение-2025 : материалы 18-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2025 года Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : БНТУ, 2025. – С. 273-275. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/162609 | |
| dc.description.abstract | В статье рассмотрены возможные способы определения межповерочных интервалов средств измерений – по количественному признаку. Предоставлены две модели концепции комбинированных методов. Обоснована комбинированная модель дрейфа, в которой дрейф математического ожидания погрешностей приборов учета в выборке описывается линейной моделью, а дрейф среднего квадратического отклонения погрешностей – экспоненциальной моделью. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Комбинированный метод определения межповерочного интервала средств измерений | ru |
| dc.title.alternative | C combined method for determining the verification interval measuring instruments | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
| local.description.annotation | The article discusses possible ways to determine the verification intervals of measuring instruments based on quantitative criteria. Two models of the combined method concept are provided. A combined drift model is substantiated, in which the drift of the mathematical expectation of the measurement errors in the sample is described by a linear model, and the drift of the average square deviation of the errors is described by an exponential model. | ru |
