Методы контроля качества и диагностики отказов приборов и структур силовой полупроводниковой электроники
| dc.contributor.author | Сопряков, В. И. | ru |
| dc.contributor.author | Петриченко, В. С. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2025-06-12T12:47:26Z | |
| dc.date.available | 2025-06-12T12:47:26Z | |
| dc.date.issued | 2013 | |
| dc.identifier.citation | Сопряков, В. И. Методы контроля качества и диагностики отказов приборов и структур силовой полупроводниковой электроники / В. И. Сопряков, В. С. Петриченко // Приборостроение-2013 : материалы 6-й Международной научно-технической конференции (20–22 ноября 2013 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. кол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2013. – С. 235-236. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/156159 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Методы контроля качества и диагностики отказов приборов и структур силовой полупроводниковой электроники | ru |
| dc.type | Article | ru |
