| dc.contributor.author | Казаков, В. И. | ru |
| dc.contributor.author | Китаев, В. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2025-02-05T12:16:47Z | |
| dc.date.available | 2025-02-05T12:16:47Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.identifier.citation | Казаков, В. И. Возможности применения дифракционных решеток в задачах многокритериального контроля технологических процессов = Possibilities of application of diffraction gratings in problems of multicriterial control of technological processes / В. И. Казаков, В. В. Китаев // Приборостроение-2024 : материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : Интегралполиграф, 2024. – С. 339-340. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/153140 | |
| dc.description.abstract | Рассматривается возможность многокритериального контртоля технологических процессов, сопровождающимися оптическими излучениями, посредством формирования векторов выхода на базе спектроскопических измерений дифракционным спектральным прибором. Предложена оптимизационная модель для нахождения наиболее подходящих параметров дифракционной решетки с целью ее эффективного применения в спектроскопических системах контроля. Представлены результаты моделирования дифракционной решетки с возможностью анализа спектров сразу в нескольких дифракционных порядках. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Интегралполиграф | ru |
| dc.title | Возможности применения дифракционных решеток в задачах многокритериального контроля технологических процессов | ru |
| dc.title.alternative | Possibilities of application of diffraction gratings in problems of multicriterial control of technological processes | ru |
| dc.type | Article | ru |
| local.description.annotation | The possibility of multi-criterial automatic control of technological process, accompanied by optical radiation, by means of formation of output vectors on the basis of spectroscopic measurements by a diffraction spectral device is considered. An optimization model is proposed for finding the most suitable parameters of a diffraction grating for the purpose of its effective application in spectroscopic control systems. The results of modeling a diffraction grating with the possibility of analyzing spectra in several diffraction orders at once are presented. | ru |
