Show simple item record

dc.contributor.authorЛисенков, Б. Н.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2025-02-05T12:15:51Z
dc.date.available2025-02-05T12:15:51Z
dc.date.issued2024
dc.identifier.citationЛисенков, Б. Н. Измерение заряда затвора силовых транзисторов = Measuring the gate charge of power transistors / Б. Н. Лисенков // Приборостроение-2024 : материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : Интегралполиграф, 2024. – С. 149-150.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/153048
dc.description.abstractПредставлена методика измерения полного заряда затвора Qg, заряда затвор-исток Qgs и заряда затвор-сток Qgd силового МОП транзистора.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherИнтегралполиграфru
dc.titleИзмерение заряда затвора силовых транзисторовru
dc.title.alternativeMeasuring the gate charge of power transistorsru
dc.typeArticleru
local.description.annotationThe paper presents a technique for measuring the total gate charge Qg, gate-source charge Qgs, and gate-drain charge Qgd of a power MOSFET.ru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record