Show simple item record

dc.contributor.authorKushiev, G.ru
dc.contributor.authorMavlonov, G.ru
dc.contributor.authorHamrokulov, Sh.ru
dc.contributor.authorMuinov, U.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2024-04-23T07:21:27Z
dc.date.available2024-04-23T07:21:27Z
dc.date.issued2022
dc.identifier.citationAutomated installation for determining the parameters of semiconductors by the Van der Pauw method / G. Kushiev [и др.] // Научные основы использования информационных технологий нового уровня и современные проблемы автоматизации : сборник трудов I Международной научной конференции, 25-26 апреля 2022 года / Ташкентский государственный технический университет имени Ислама Каримова ; Белорусский национальный технический университет ; Белорусско-узбекский совместный межотраслевой институт прикладных технических квалификаций в городе Ташкент ; Научно-исследовательский институт физики полупроводников и микроэлектроники при национальном университете Узбекистана имени Мирзо Улугбека ; ред. А. М. Хусейнов. – Ташкент : Университет, 2022. – С. 402-404.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/142081
dc.language.isoenru
dc.publisherБНТУru
dc.titleAutomated installation for determining the parameters of semiconductors by the Van der Pauw methodru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record