| dc.contributor.author | Ивуть, П. В. | ru |
| dc.contributor.author | Щербаков, Н. Г. | ru |
| dc.contributor.author | Гуторов, А. В. | ru |
| dc.contributor.author | Ломако, А. А. | ru |
| dc.contributor.author | Голубев, Ю. В. | ru |
| dc.contributor.author | Беляев, Б. И. | ru |
| dc.contributor.author | Сосенко, В. А. | ru |
| dc.contributor.author | Литвинович, Г. С. | ru |
| dc.contributor.author | Хомицевич, А. Д. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2023-12-21T07:32:20Z | |
| dc.date.available | 2023-12-21T07:32:20Z | |
| dc.date.issued | 2023 | |
| dc.identifier.citation | Опытный образец высотного калибровочного пункта для калибровки спутниковых сенсоров и валидации измерений = Prototype model high-altitude system for calibration satellite sensors and validation measurements / П. В. Ивуть [и др.] // Приборостроение-2023 : материалы 16-й Международной научно-технической конференции, 15-17 ноября 2023 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2023. – С. 328-329. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/138554 | |
| dc.description.abstract | В данной работе представлен комплекс аппаратуры, являющийся средством мониторинга состояния подстилающих поверхностей в наземных условиях, позволяющий осуществлять регистрацию спектральных отражательных характеристик объектов в видимом и ближнем инфракрасном диапазоне с высокой частотой, а также с высоким пространственным и спектральным разрешением. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Опытный образец высотного калибровочного пункта для калибровки спутниковых сенсоров и валидации измерений | ru |
| dc.title.alternative | Prototype model high-altitude system for calibration satellite sensors and validation measurements | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
| local.description.annotation | A set of equipment is designed for remote acquisition of spectral and images of the Earth's surface in visible and near infrared range is presented. It allows capturing spectral reflectance characteristics in high frequency, spatial and spectral resolution. | ru |
