Цифровая схема анализа дребезга контактов коммутаторов
Loading...
Files
item.page.doi
Authors
item.page.other-contributor
item.page.advisors
item.page.editors
Date
Publisher
item.page.issn
item.page.isbn
item.page.depon
item.page.diss
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
item.page.title-alternative
Digital circuit for switch contact bounce analysis
Abstract
В статье рассматривается вопрос исследования параметров дребезга электрических контактов коммутаторов цифровых систем. Предлагается схемотехническое решение для построения цифрового анализатора дребезга контактов. Приводятся результаты экспериментальных исследований поведения электрических контактов различных кнопок и переключателей. Показано, что различные электрические коммутаторы обладают случайными и уникальными характеристиками, что может быть использовано для решения задач генерирования случайных чисел, идентификации цифровых устройств и аутентификации пользователей. Прототипирование разработанного анализатора проводилось на отладочных платах Digilent ZYBO Z7-10, цифровые схемы проектировались на языке VHDL для кристалла FPGA Xilinx Zynq-7000.
item.page.description-other
This article discusses the issue of studying the parameters of the bounce of electrical contacts of switches in digital systems. Digital circuits of bounce analyzer are described. The results of experimental studies of the behavior of electrical contacts of various buttons and switches are presented. It is shown that various electric switches have random and unique characteristics, which can be used to solve the problems of random numbers generating, identifying of digital devices and user’s authentication. Prototyping of the proposed circuits was carried out on Digilent ZYBO Z7-10 debug boards, digital circuits were designed in VHDL for the Xilinx Zynq-7000 FPGA chip.
Description
Citation
Иванюк, А. А. Цифровая схема анализа дребезга контактов коммутаторов = Digital circuit for switch contact bounce analysis / А. А. Иванюк, Д. О. Можейко // Системный анализ и прикладная информатика. – 2023. – № 3. – С. 24-32.