Метрологическое обеспечение измерений микро- и наночастиц предполагает создание комплекса эталонных средств измерений, позволяющего обеспечить прослеживаемость результатов измерений размеров частиц и, тем самым, распространить Систему обеспечения единства измерений на нанометровый диапазон.