Show simple item record

dc.contributor.authorСиняк, В. М.ru
dc.contributor.authorМирошниченко, А. А.ru
dc.contributor.authorКарпович, Е. Ф.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2022-10-24T11:18:30Z
dc.date.available2022-10-24T11:18:30Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.citationСиняк, В. М. Использование метода микротвердости для изучения механических свойств поверхностных полупроводниковых слоев / В. М. Синяк, А. А. Мирошниченко, Е. Ф. Карпович // Новые направления развития приборостроения : материалы 6-й Международной студенческой научно-технической конференции, 24-26 апреля 2013 г. / редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2013. – С. 158.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/121289
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleИспользование метода микротвердости для изучения механических свойств поверхностных полупроводниковых слоевru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record