Browsing Наука – образованию, производству, экономике by Author "Тявловский, А. К."
Now showing items 1-20 of 23
-
Алгоритмическое обеспечение исследования свойств поверхности функциональных материалов зарядочувствительными методами
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2014)Жарин, А. Л. Алгоритмическое обеспечение исследования свойств поверхности функциональных материалов зарядочувствительными методами / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 12-й Международной научно-технической конференции. Т. 2. - Минск : БНТУ, 2014. - С. 186.2015-01-14 -
Влияние режимов ионной имплантации азота N на работу выхода электрона с поверхности стальных образцов
Белый, А. В.; Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2011)Белый, А. В. Влияние режимов ионной имплантации азота N на работу выхода электрона с поверхности стальных образцов / А. В. Белый, А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Девятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...2021-06-04 -
Влияние технологии обработки на электрофизические свойства поверхности элементов сенсорных устройств
Воробей, Р. И.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2017)Воробей, Р. И. Влияние технологии обработки на электрофизические свойства поверхности элементов сенсорных устройств / Р. И. Воробей, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 2. - С. 229.2018-04-04 -
Ионизационный метод измерения контактной разности потенциалов
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Ананчиков, И. А. (БНТУ, 2009)Жарин, А. Л. Ионизационный метод измерения контактной разности потенциалов / А. Л. Жарин [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Седьмой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2009. – Т. 1. – С. 412.2021-09-30 -
Использование отладочных средств микроконтроллеров MSP430 в учебном процессе на кафедре «Информационно-измерительная техника и технологии» и в её филиалах
Кривицкий, П. Г.; Тявловский, А. К.; Шмаков, В. Ю. (БНТУ, 2006)Кривицкий, П. Г. Использование отладочных средств микроконтроллеров MSP430 в учебном процессе на кафедре «Информационно-измерительная техника и технологии» и в её филиалах / П. Г. Кривицкий, А. К. Тявловский, В. Ю. Шмаков // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Третьей международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический ...2021-10-29 -
Исследование состояния модифицированных поверхностей после высокоэнергетического воздействия методами зондовой электрометрии
Тявловский, А. К. (БНТУ, 2015)Тявловский, А. К. Исследование состояния модифицированных поверхностей после высокоэнергетического воздействия методами зондовой электрометрии / А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 173.2016-03-04 -
Комплексное исследование новых функциональных материалов с использованием зарядочувствительных методов контроля
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2015)Пантелеев, К. В. Комплексное исследование новых функциональных материалов с использованием зарядочувствительных методов контроля / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 175.2016-03-04 -
Математическое моделирование взаимодействия средств контроля электрофизических параметров с наноразмерными дефектами поверхности
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)Тявловский, А. К. Математическое моделирование взаимодействия средств контроля электрофизических параметров с наноразмерными дефектами поверхности / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 2. - С. 225.2018-04-03 -
Математическое моделирование характеристик разрешающей способности сканирующего зонда Кельвина
Тявловский, А. К. (БНТУ, 2012)Тявловский, А. К. Математическое моделирование характеристик разрешающей способности сканирующего зонда Кельвина / А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Десятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, ...2021-05-20 -
Методика исследования метрологических характеристик измерительных преобразователей электрического потенциала
Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К.; Мухуров, Н. И. (БНТУ, 2013)Тявловский, К. Л. Методика исследования метрологических характеристик измерительных преобразователей электрического потенциала / К. Л. Тявловский, А. К. Тявловский, Н. И. Мухуров // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 11-й Международной научно-технической конференции. Т. 2. - Минск : БНТУ, 2013. - С. 186.2015-08-20 -
Методика межлабораторных сличений средств измерений концентрации технологических растворов
Гусев, О. К.; Марцынкевич, Ю. С.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2004)Гусев, О. К. Методика межлабораторных сличений средств измерений концентрации технологических растворов / О. К. Гусев, Ю. С. Марцынкевич, А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Второй международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...2021-10-15 -
Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Пантелеев, К. В. Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 208.2017-04-03 -
Метрологическая модель системы измерения работы выхода электрона поверхности методом невибрирующего зонда Кельвина
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2011)Жарин, А. Л. Метрологическая модель системы измерения работы выхода электрона поверхности методом невибрирующего зонда Кельвина / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Девятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...2021-06-04 -
Неразрушающий контроль механических напряжений на поверхности проводящих объектов
Гусев, О. К.; Киреенко, В. П.; Русакевич, Д. А.; Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2006)Неразрушающий контроль механических напряжений на поверхности проводящих объектов / О. К. Гусев [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Четвертой международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2006. – Т. 1. – С. 236-238.2021-11-11 -
Неразрушающий контроль параметров пространственного распределения дефектов с характерными размерами более 50 нм в полупроводниковых пластинах
Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2007)Неразрушающий контроль параметров пространственного распределения дефектов с характерными размерами более 50 нм в полупроводниковых пластинах / О. К. Гусев [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Пятой международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. ...2021-11-08 -
Принципы диагностики дефектов обработки поверхности металлов и диэлектриков зондовым электрометрическим методом
Тявловский, А. К. (БНТУ, 2018)Тявловский, А. К. Принципы диагностики дефектов обработки поверхности металлов и диэлектриков зондовым электрометрическим методом / А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 2. - С. 173.2019-04-26 -
Принципы экспрессного контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей методами зондовой электрометрии
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Жарин, А. Л. Принципы экспрессного контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей методами зондовой электрометрии / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 209.2017-04-03 -
Проектирование интеллектуальных измерительных преобразователей с использованием одноканальной схемы измерения
Воробей, Р. И.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2014)Воробей, Р. И. Проектирование интеллектуальных измерительных преобразователей с использованием одноканальной схемы измерения / Р. И. Воробей // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 12-й Международной научно-технической конференции. Т. 2. - Минск : БНТУ, 2014. - С. 185.2015-01-14 -
Разработка методов хранения, воспроизведения и передачи единиц размера параметров многокомпонентных растворов на основе электронных эталонов
Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Лукинов, К. А. (БНТУ, 2008)Свистун, А. И. Разработка методов хранения, воспроизведения и передачи единиц размера параметров многокомпонентных растворов на основе электронных эталонов / А. И. Свистун, А. К. Тявловский, К. А. Лукинов // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Шестой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; ...2021-08-26 -
Разработка принципа хранения и передачи размера единицы концентрации электронными эквивалентами рабочих эталонов
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Киреенко, В. П.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Яржембицкий, В. Б. (БНТУ, 2003)Разработка принципа хранения и передачи размера единицы концентрации электронными эквивалентами рабочих эталонов / Р. И. Воробей [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы международной научно-технической конференции / Белорусский национальный технический университет ; под общ. ред. Б. М. Хрусталева, В. Л. Соломахо. – Минск : Технопринт, 2003. – Т. 1. – С. 94-97.2021-10-21