Browsing Наука – образованию, производству, экономике by Author "Гусев, О. К."
Now showing items 1-20 of 26
-
Генерационно-рекомбинационный шум в фотодетекторах на основе полупроводников с многозарядными примесями и дефектами
Гусев, О. К.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В (БНТУ, 2012)Гусев, О. К. Генерационно-рекомбинационный шум в фотодетекторах на основе полупроводников с многозарядными примесями и дефектами / О. К. Гусев, Л. И. Шадурская, Н. ВЯржембицкая // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Десятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. ...2021-05-20 -
ИК-фотоприемники на основе полупроводников с глубокими примесями, работающие в линейном режиме при высоких интенсивностях света
Гусев, О. К.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (БНТУ, 2008)Гусев, О. К. ИК-фотоприемники на основе полупроводников с глубокими примесями, работающие в линейном режиме при высоких интенсивностях света / О. К. Гусев, Л. И. Шадурская, Н. В. Яржембицкая // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Шестой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. ...2021-08-26 -
Интеграция датчиков параметров технологического процесса перекачки жидкости в схеме ИИС контроля состояния основного оборудования
Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2012)Гусев, О. К. Интеграция датчиков параметров технологического процесса перекачки жидкости в схеме ИИС контроля состояния основного оборудования / О. К. Гусев, Р. И. Воробей, К. Л. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Десятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. ...2021-05-20 -
Классификация изменений фотоэлектрического усиления фотопроводящих структур в сильных электрических полях
Гусев, О. К.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (БНТУ, 2015)Гусев, О. К. Классификация изменений фотоэлектрического усиления фотопроводящих структур в сильных электрических полях / О. К. Гусев, Л. И. Шадурская, Н. В. Яржембицкая // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 169.2016-03-04 -
Критерий применимости адаптивных методов для измерений параметров объектов в неопределенных состояниях
Гусев, О. К.; Свистун, А. И. (БНТУ, 2007)Гусев, О. К. Критерий применимости адаптивных методов для измерений параметров объектов в неопределенных состояниях / О. К. Гусев, А. И. Свистун // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Пятой международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – ...2021-11-08 -
Методика использования специальных тренажеров в подготовке спортсменов-тяжелоатлетов
Полховский, С. А.; Гусев, О. К. (БНТУ, 2009)Полховский, С. А. Методика использования специальных тренажеров в подготовке спортсменов-тяжелоатлетов / С. А. Полховский, О. К. Гусев // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Седьмой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : ...2021-09-30 -
Методика испытаний полупроводниковых фотоэлектрических нуль-детекторов
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И. (БНТУ, 2006)Методика испытаний полупроводниковых фотоэлектрических нуль-детекторов / Р. И. Воробей [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Четвертой международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2006. – Т. 1. – С. 233-235.2021-11-11 -
Методика межлабораторных сличений средств измерений концентрации технологических растворов
Гусев, О. К.; Марцынкевич, Ю. С.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2004)Гусев, О. К. Методика межлабораторных сличений средств измерений концентрации технологических растворов / О. К. Гусев, Ю. С. Марцынкевич, А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Второй международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...2021-10-15 -
Методы и средства бесконтактной регистрации отклика модулированной поверхностной фотоЭДС полупроводниковой пластины
Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2017)Гусев, О. К. Методы и средства бесконтактной регистрации отклика модулированной поверхностной фотоЭДС полупроводниковой пластины / О. К. Гусев, К. Л. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 2. - С. 228.2018-04-04 -
Метрологические проблемы в проектировании спортивных тренажеров
Хорлоогийн, А. С.; Гусев, О. К. (БНТУ, 2009)Хорлоогийн, А. С. Метрологические проблемы в проектировании спортивных тренажеров / А. С. Хорлоогийн, О. К. Гусев // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Седьмой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2009. – Т. 1. – С. 423.2021-09-30 -
Метрологическое моделирование зарядочувствительных методов контроля функциональных материалов
Гусев, О. К.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2013)Гусев, О. К. Метрологическое моделирование зарядочувствительных методов контроля функциональных материалов / О. К. Гусев, А. В. Дубаневич // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 11-й Международной научно-технической конференции. Т. 2. - Минск : БНТУ, 2013. - С. 185.2015-08-20 -
Механизмы управления характеристиками твердотельных сенсорных структур
Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2018)Гусев, О. К. Механизмы управления характеристиками твердотельных сенсорных структур / О. К. Гусев, К. Л. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 2. - С. 178.2019-04-29 -
Моделирование объекта в процедуре измерений концентрации носителей заряда
Гусев, О. К. (БНТУ, 2003)Гусев, О. К. Моделирование объекта в процедуре измерений концентрации носителей заряда / О. К. Гусев // Наука - образованию, производству, экономике : материалы международной научно-технической конференции / Белорусский национальный технический университет ; под общ. ред. Б. М. Хрусталева, В. Л. Соломахо. – Минск : Технопринт, 2003. – Т. 1. – С. 98-102.2021-10-21 -
Модернизация одно- и двухканальных оптико-электронных приборов и методов измерений с использованием парафазных фотодетекторов
Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Яржембицкая, Н. В. (БНТУ, 2004)Гусев, О. К. Модернизация одно- и двухканальных оптико-электронных приборов и методов измерений с использованием парафазных фотодетекторов / О. К. Гусев, А. И. Свистун, Н. В. Яржембицкая // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Второй международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. ...2021-10-15 -
Неадлитивная фотопроводимость в полупроводниках с глубокими примесями
Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (БНТУ, 2011)Неадлитивная фотопроводимость в полупроводниках с глубокими примесями / О. К. Гусев [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Девятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2011. – Т. 2. – С. 170.2021-06-04 -
Неразрушающий контроль механических напряжений на поверхности проводящих объектов
Гусев, О. К.; Киреенко, В. П.; Русакевич, Д. А.; Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2006)Неразрушающий контроль механических напряжений на поверхности проводящих объектов / О. К. Гусев [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Четвертой международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2006. – Т. 1. – С. 236-238.2021-11-11 -
Неразрушающий контроль параметров пространственного распределения дефектов с характерными размерами более 50 нм в полупроводниковых пластинах
Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2007)Неразрушающий контроль параметров пространственного распределения дефектов с характерными размерами более 50 нм в полупроводниковых пластинах / О. К. Гусев [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Пятой международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. ...2021-11-08 -
Оптическое гашение фотоэдс в поверхностно-барьерных диодах на основе кремния p-типа
Гусев, О. К.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (БНТУ, 2015)Гусев, О. К. Оптическое гашение фотоэдс в поверхностно-барьерных диодах на основе кремния p-типа / О. К. Гусев, Л. И. Шадурская, Н. В. Яржембицкая // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 168.2016-03-04 -
Особенности инжекционных зависимостей времени жизни основных носителей заряда в полупроводниках с двумя видами рекомбинационных уровней
Гусев, О. К.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (БНТУ, 2016)Гусев, О. К. Особенности инжекционных зависимостей времени жизни основных носителей заряда в полупроводниках с двумя видами рекомбинационных уровней / О. К. Гусев, Л. И. Шадурская, Н. В. Яржембицкая // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 204.2017-04-03 -
Потенциальный барьер как инженерный параметр в приборных структурах на основе полупроводников с глубокими центрами
Гусев, О. К.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (БНТУ, 2008)Гусев, О. К. Потенциальный барьер как инженерный параметр в приборных структурах на основе полупроводников с глубокими центрами / О. К. Гусев, Л. И. Шадурская, Н. В. Яржембицкая // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Шестой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. ...2021-08-26