Now showing items 1-2 of 2

    • Методика контроля элементного состава дефектов субмикронных интегральных микросхем 

      Литвинова, А. В.; Ефименко, С. А. (БНТУ, 2022)
      Литвинова, А. В. Методика контроля элементного состава дефектов субмикронных интегральных микросхем / А. В. Литвинова, С. А. Ефименко // Новые направления развития приборостроения : материалы 15-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 20−22 апреля 2022 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. ...
      2022-05-20
    • Электронная оцифровка изображения поверхности как дальнейший метод анализа вертикальной структуры образца 

      Литвинова, А. В.; Ефименко, С. А. (БНТУ, 2022)
      Литвинова, А. В. Электронная оцифровка изображения поверхности как дальнейший метод анализа вертикальной структуры образца / А. В. Литвинова, С. А. Ефименко // Новые направления развития приборостроения : материалы 15-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 20−22 апреля 2022 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: ...
      2022-05-20