Show simple item record

dc.contributor.authorНоваш, И. В.
dc.contributor.authorРоманюк, Ф. А.
dc.contributor.authorРумянцев, В. Ю.
dc.contributor.authorРумянцев, Ю. В.
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2021-12-13T13:43:25Z
dc.date.available2021-12-13T13:43:25Z
dc.date.issued2021
dc.identifier.citationИспытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практика / И. В. Новаш [и др.]. – Минск : БНТУ, 2021. – 168 с.ru
dc.identifier.isbn978-985-583-726-9
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/108163
dc.description.abstractВ монографии рассматриваются вопросы теории, математического моделирования, практических приемов испытаний микропроцессорных токовых защит и их моделей с помощью испытательных установок и компьютерных программных комплексов. Монография рассчитана на научных сотрудников и инженерно-технический персонал энергосистем, будет полезна преподавателям, аспирантам, магистрантам и студентам вузов.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleИспытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практикаru
dc.typeBookru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record