Now showing items 1-3 of 3

    • Методика определения электрической проводимости полупроводниковых образцов по результатам бесконтактных микроволновых измерений 

      Поклонский, Н. А.; Сягло, А. И.; Шнитко, В. Т.; Меркулов, В. А.; Давиденя, М. О.; Ковалев, А. И. (БНТУ, 2012)
      Методика определения электрической проводимости полупроводниковых образцов по результатам бесконтактных микроволновых измерений / Н. А. Поклонский, А. И. Сягло, В. Т. Шнитко [и др.] // Приборостроение-2012 : материалы 5-й Международной научно-технической конференции, 21–23 ноября 2012 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский ...
      2026-03-11
    • Экспресс-метод бесконтактного измерения микроволновых параметров материалов 

      Поклонский, Н. А.; Сягло, А. И.; Шнитко, В. Т.; Меркулов, В. А.; Давиденя, М. О. (БНТУ, 2011)
      Экспресс-метод бесконтактного измерения микроволновых параметров материалов / Н. А. Поклонский, А. И. Сягло, В. Т. Шнитко[и др.] // Приборостроение-2011 : материалы 4-й Международной научно-технической конференции, 16–18 ноября 2011 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2011. – С. 138-139.
      2026-03-12
    • Экспресс-методика бесконтактного измерения электрических параметров небольших образцов на сверхвысоких частотах 

      Поклонский, Н. А.; Сягло, А. И.; Шнитко, В. Т.; Меркулов, В. А.; Давиденя, М. О.; Ковалев, А. И. (БНТУ, 2013)
      Разработана установка с отражательным СВЧ-резонатором типа H101 для бесконтактного измерения электрических параметров небольших (диаметром  5 мм) образцов. Получено аналитическое выражение для расчета коэффициента отражения мощности СВЧ-излучения H101-резонатором с находящимся в нем образцом в зависимости от диэлектрической проницаемости и электропроводности образца. Экспериментально ...
      2013-12-02