Browsing by Author "Гоголинский, К. В."
Now showing items 1-4 of 4
-
Исследование влияния коэффициента упрочнения на результаты моделирования процесса инструментального индентирования сферическим наконечником
Доронин, К. И.; Уманский, А. С.; Гоголинский, К. В. (Интегралполиграф, 2024)В работе рассмотрены особенности моделирования процесса индентирования сферическим индентором при различных коэффициентах упрочнения n исследуемого материала. С помощью метода конечных элементов получены диаграммы индентирования материала с заданными свойствами, близкими к стали Ст3. Выявлено изменение расчетных значений твердости и модуля упругости при увеличении значения n. ...2025-02-05 -
Исследование влияния механических напряжений на измерение механических свойств методом инструментального индентирования
Доронин, К. И.; Уманский, А. С.; Гоголинский, К. В. (БНТУ, 2025)Работа посвящена применению метода инструментального индентирования для оценки наличия напряженно-деформированного состояния в материале. При проведении измерений механических свойств образца стали марки Ст3 выявлено изменение значений твердости и модуля упругости при изменении напряженно-деформированного состояния. Определено, что значение модуля упругости, измеренное на упруго ...2026-01-14 -
Прикладные методы рассеяния нейтронов для неразрушающего контроля материалов
Алтынбаев, Е. В.; Гоголинский, К. В. (БНТУ, 2025)В докладе представлено описание наиболее перспективных методов рассеяния нейтронов на выведенных пучках для их внедрения в инетресах высокотехнолгичной промышленности, а именно: нейтронная радиография, стресс-дифрактометрия, малоугловое рассеяние нейтронов.2026-01-14 -
Проблемы метрологии и стандартизации нейтронных и синхротронных методов исследований структуры и свойств материалов
Алтынбаев, Е. В.; Гоголинский, К. В.; Гуревич, В. Л.; Хейфец, М. Л. (БНТУ, 2025)Доклад посвящен анализу проблем внедрения методов рассеяния нейтронов и синхротронного излучения для исследования структуры и свойств материалов. Рассмотрены задачи метрологического обеспечения и стандартизации прикладных нейтронных и синхротронных методов, предложены пути их решения и представлены аннотации конкретных проектных предложений.2026-01-14



