По эмиссионным спектрам низкого разрешения осуществляется калибровка концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в эталонных низколегированных сталях. Рассмотрены три метода выбора спектральных переменных для многопараметрической калибровки методом частичных наименьших квадратов. Лучшие результаты показал выбор спектральных переменных оригинальным методом поиска комбинации движущихся ...