Now showing items 1-3 of 3

    • Зависимость параметров субмикронного N-P-N-транзистора от режимов формирования базовой области 

      Белоус, В. А.; Просолович, В. С.; Янковский, Ю. Н.; Черный, В. В. (БНТУ, 2011)
      Зависимость параметров субмикронного N-P-N-транзистора от режимов формирования базовой области / В. А. Белоус, В. С. Просолович, Ю. Н. Янковский, В. В. Черный // Приборостроение-2011 : материалы 4-й Международной научно-технической конференции, 16–18 ноября 2011 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : ...
      2026-03-12
    • Оценка и обеспечение компетентности персонала в рамках системы менеджмента качества 

      Белоус, В. А.; Ленкевич, О. А. (БНТУ, 2018)
      Белоус, В. А. Оценка и обеспечение компетентности персонала в рамках системы менеджмента качества / В. А. Белоус, О. А. Ленкевич // Новые направления развития приборостроения : материалы 11-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, (18-20 апреля 2018 г.) / пред. редкол. О. К. Гусев. - Минск : БНТУ, 2018. - C. 316.
      2018-09-04
    • Параметры слоев масштабированного n-p-n-транзистора для субмикронных интегральных микросхем 

      Белоус, В. А.; Просолович, В. С.; Янковский, Ю. Н.; Черный, В. В. (БНТУ, 2010)
      Параметры слоев масштабированного n-p-n-транзистора для субмикронных интегральных микросхем / В. А. Белоус, В. С. Просолович, Ю. Н. Янковский, В. В. Черный // Приборостроение-2010 : материалы 3-й Международной научно-технической конференции, 10–12 ноября 2010 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, ...
      2026-03-12