Browsing by Author "Анищик, В. М."

Now showing items 1-5 of 5

    • Методика определения адгезионной прочности Mo-Ti-N И Mo-Cu-N покрытий 

      Анищик, В. М.; Кулешов, А. К.; Углов, В. В.; Русальский, Д. П.; Сыщенко, А. Ф. (БНТУ, 2015)
      Методика определения адгезионной прочности Mo-Ti-N И Mo-Cu-N покрытий / В. М. Анищик [и др.] // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2015. – Т. 1. - С. 33-34.
      2016-10-03

    • Микротвердость бериллиевой бронзы BrB2, облученной ионами углерода средних энергий 

      Поляк, Н. И.; Шарипов, Ш. Д.; Шалыга, А. В.; Анищик, В. М.; Лигачев, А. Е.; Понарядов, В. В. (БНТУ, 2022)
      Изучено влияние облучения ионами C+ с энергией Е = 250 кэВ (J = 25 +- 5, 65 +- 5 и 105 +- 15 А/см2) единичным импульсом на изменение микротвердости сплава BrB2 на разных стадиях старения. Наблюдаемые изменения микротвердости сплава связаны с исходным состоянием и структурно-фазовыми превращениями при облучении.
      2022-12-28

    • Определение адгезионной прочности Mo-Ti-N и Mo-Сu-N покрытий на установке «скретч-тестер» 

      Анищик, В. М.; Кулешов, А. К.; Углов, В. В.; Русальский, Д. П.; Сыщенко, А. Ф. (БНТУ, 2015)
      Разработана установка («скретч-тестер») для определения адгезионной прочности покрытий. Установка имеет ряд преимуществ по сравнению с известными аналогами – расширенный диапазон размеров исследуемого образца и более простая процедура его позиционирования, более точное измерение длины скрайбирования, дополнительный способ регистрации момента разрушения или отрыва покрытия по силе ...
      2015-07-24

    • Применение вторично-ионной масс-спектрометрии для исследования взаимодействия алюминиевой металлизации с поликристаллическим кремнием после быстрого и длительного термического отжига 

      Пилипенко, В. А.; Анищик, В. М.; Понарядов, В. В.; Жигулин, Д. В.; Шестовский, Д. В. (БНТУ, 2025)
      Метод вторично-ионной масс-спектрометрии является одним из основных методов по изучению элементного, химического и изотопного состава вещества. Благодаря своей высокой чувствительности он нашел широкое применение в микроэлектронике по изучению диффузионных явлений в тонких (от 1 нм) пленках полупроводниковых изделий. Данный метод позволяет определять концентацию легирующей примеси, ...
      2026-01-14

    • Установка для определения адгезионной прочности покрытий «скретч-тестер» 

      Анищик, В. М.; Углов, В. В.; Русальский, Д. П.; Сыщенко, А. Ф. (БНТУ, 2014)
      Установка для определения адгезионной прочности покрытий «скретч-тестер» / В. М. Анищик [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 24-26.
      2015-03-16