Now showing items 1-1 of 1

    • Numerical simulation of electric characteristics of deep submicron silicon-on-insulator MOS transistor 

      Borzdov, A. V.; Borzdov, V. M.; Dorozhkin, N. N. (БНТУ, 2016)
      На сегодняшний день субмикронные МОП-транзисторные структуры кремний-на-изоляторе (КНИ) широко используются в различных электронных устройствах, а также могут применяться в качестве сенсорных элементов. Разработка приборов с заданными характеристиками на основе этих структур невозможна без компьютерного моделирования их электрических свойств. Для глубокосубмикронных транзисторных ...
      2016-09-11