• Cost of ownership model for probe card technology 

    Nenzi, Paolo; Kravets, Marta; Balucani, Marco (БНТУ, 2010)
    Nenzi, Paolo Cost of ownership model for probe card technology / Paolo Nenzi, Marta Kravets, Marco Balucani // Новые направления развития приборостроения : материалы 3-й Международной студенческой научно-технической конференции, 21-23 апреля 2010 г. / Белорусский национальный технический университет; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2010. - С. 306.
    2018-01-16
  • Reliability analysis of a new probe card technology 

    Nenzi, Paolo; Balucani, Marco (БНТУ, 2010)
    Nenzi, Paolo Reliability analysis of a new probe card technology / Paolo Nenzi, Marco Balucani // Новые направления развития приборостроения : материалы 3-й Международной студенческой научно-технической конференции, 21-23 апреля 2010 г. / Белорусский национальный технический университет; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2010. - С. 267.
    2018-01-15