Browsing by Author "Павлюченко, В. В."
Now showing items 41-60 of 92
-
Прохождение импульсов электромагнитного поля через щели между металлическими образцами
Павлюченко, В. В. (БНТУ, 2006)Павлюченко, В. В. Прохождение импульсов электромагнитного поля через щели между металлическими образцами / В. В. Павлюченко // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Третьей международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2006. ...2021-11-16 -
Разработка методов контроля свойств объектов в импульсных магнитных полях
Дорошевич, Е. С.; Павлюченко, В. В. (БНТУ, 2021)Представлены разработки методов контроля свойств металлических объектов с помощью пленочных преобразователей магнитного поля: сплошного и дискретного магнитного носителя, магнитооптической пленки и пленочного флюкс-детектора. При этом использованы полученные авторами результаты исследований гистерезисной интерференции в импульсных магнитных полях и представлены примеры алгоритмов. ...2021-07-02 -
Разработка способов и устройств магнитоимпульсного контроля
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. А. (БНТУ, 2011)Павлюченко, В. В. Разработка способов и устройств магнитоимпульсного контроля / В. В. Павлюченко, Е. А. Дорошевич // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Девятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2011. – Т. 3. – С. 365.2021-09-28 -
Разработка устройств магнитоисмпульсивного контроля объектов
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. C. (БНТУ, 2012)Павлюченко, В. В. Разработка устройств магнитоисмпульсивного контроля объектов / В. В. Павлюченко, Е. C. Дорошевич // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Десятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2012. – Т. 3. – С. 394.2021-05-26 -
Разработка устройства контроля электрических и магнитных свойств материалов с формированием оптических изображений
Павлюченко, В. В.; Сычик, В. А.; Дорошевич, Е. С. (БНТУ, 2009)Павлюченко, В. В. Разработка устройства контроля электрических и магнитных свойств материалов с формированием оптических изображений / В. В. Павлюченко, В. А. Сычик, Е. С. Дорошевич // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Седьмой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, ...2021-10-08 -
Распределение напряженности импульсного магнитного поля вблизи электропроводящих объектов
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (БНТУ, 2008)Павлюченко, В. В. Распределение напряженности импульсного магнитного поля вблизи электропроводящих объектов / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Шестой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – ...2021-08-30 -
Распределения отраженных и прошедших через металл импульсных магнитных полей локального источника
Дорошевич, Е. С.; Павлюченко, В. В. (БНТУ, 2021)Представлены зависимости U(t) электрического напряжения от времени t на выходе магнитной головки, сканирующей магнитный носитель (МН) с записями магнитных полей, прошедших через пластины из алюминия толщиной от 0,18 мм до 0,28 мм. На МН воздействовали четырьмя импульсами магнитного поля линейного индуктора. Получена гистерезисная интерференция импульсного магнитного поля в прошедшей ...2021-07-02 -
Расчет напряженности магнитного поля при контроле электрических и магнитных свойств объектов
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (БНТУ, 2014)Павлюченко, В. В. Расчет напряженности магнитного поля при контроле электрических и магнитных свойств объектов / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 12-й Международной научно-технической конференции. Т. 3. - Минск : БНТУ, 2014. - С. 487-488.2015-02-11 -
Расчеты вторичных магнитных полей электропроводящих объектов
Дорошевич, Е. С.; Павлюченко, В. В. (2016)Дорошевич, Е. С. Расчеты вторичных магнитных полей электропроводящих объектов / Е. С. Дорошевич, В. В. Павлюченко // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 3. - С. 459.2017-09-01 -
Расчеты параметров оптических изображений объектов, полученных с помощью датчиков импульсных магнитных полей
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (БНТУ, 2020)На основании разработанных методов контроля получены расчетные зависимости U(x) электрического напряжения, снимаемого с преобразователя магнитного поля, сканирующего магнитный носитель (МН) от расстояния x до проекции оси линейного индуктора. Найденные зависимости U(x) для алюминиевого образца в виде клина позволяют повысить оперативность контроля толщины по длине образца, а также ...2020-09-10 -
Расчеты распределений импульсных магнитных полей
Дорошевич, Е. С.; Павлюченко, В. В. (БНТУ, 2023)Представлены расчетные распределения величины электрического напряжения U на выходе магнитной головки (МГ), сканирующей магнитный носитель (МН), по координате x. На МН воздействовали импульсами магнитного поля линейного индуктора. Предложены расчеты с многократным использованием начальной и гистерезисных ветвей остаточного намагничивания МН при построении гистерезисной интерференции. ...2023-10-13 -
Расчеты распределений импульсных магнитных полей вторичных источников
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (Белорусско-Российский университет, 2017)В статье изложены результаты расчетов пространственных распределений электрического напряжения U(x), снимаемого с преобразователя магнитного поля, при гистерезисной интерференции импульсного магнитного поля (HI). Гистерезисные ветви остаточных магнитных полей магнитного носителя представлены в виде функций арктангенса. Графики рассчитаны с помощью программного языка Delphi. ...2021-07-12 -
Расчеты распределений импульсных магнитных полей при гистерезисной интерференции
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С.; Пивоваров, В. Л. (Наука, 2018)Представлены расчеты распределений электрического напряжения U(x), снимаемого с преобразователя магнитного поля, соответствующие распределениям остаточных магнитных полей магнитного носителя, возникающих при воздействии на него импульсными магнитными полями линейного индуктора разной полярности. Графики получены с помощью программного языка Delphi. Явление гистерезисной интерференции ...2023-10-05 -
Расчеты распределений электрического сигнала преобразователя магнитного поля
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (БНТУ, 2022)Представлены расчетные зависимости U(x) электрического напряжения от координаты x на выходе магнитной головки, сканирующей магнитный носитель (МН) с записями магнитных полей. На МН воздействовали тремя импульсами магнитного поля одного и двух линейных индукторов. Расчеты проведены в отраженной волне. Получена гистерезисная интерференция импульсного магнитного поля, позволяющая ...2022-07-04 -
Системы управления магнитными полями
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (БНТУ, 2008)Павлюченко, В. В. Системы управления магнитными полями / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Шестой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2008. – Т. 2. – С. 287.2021-08-30 -
Способ контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материала
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С.; Пивоваров, В. Л. (2017)Способ контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материала : пат. 21362 Респ. Беларусь : МПК(2006.01) G01N27/72 / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич, В. Л. Пивоваров ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2017.10.30.2019-11-15 -
Способ контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материала
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (2017)Способ контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материала : пат. 21370 Респ. Беларусь : МПК(2006.01) G01N27/72 / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2017.10.30.2019-11-15 -
Способ контроля свойств объекта из электропроводящего материала
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (2012)Способ контроля свойств объекта из электропроводящего материала : пат. 16239 Респ. Беларусь : МПК(2006.01) G01N27/72 / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2012.08.30.2019-10-21 -
Способ контроля свойств объекта из электропроводящего материала
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (2012)Способ контроля свойств объекта из электропроводящего материала : пат. 16238 Респ. Беларусь : МПК(2006.01) G01N27/72 / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2012.08.30.2019-10-21 -
Способ контроля удельной электропроводности, магнитной проницаемости, а также толщины и дефектов сплошности электропроводящего объекта
Павлюченко, В. В.; Дорошевич, Е. С. (2018)Способ контроля удельной электропроводности, магнитной проницаемости, а также толщины и дефектов сплошности электропроводящего объекта : пат. 21657 Респ. Беларусь : МПК(2006.01) G01N27/72 / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2018.02.28.2019-11-15