Спектральное распределение спонтанной электролюминесценции зеленых светоизлучающих диодов

Loading...
Thumbnail Image

item.page.other-contributor

item.page.advisors

item.page.editors

Date

Publisher

item.page.issn

item.page.isbn

item.page.depon

item.page.diss

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

item.page.title-alternative

Abstract

Изучены метрологические возможности специализированного измерительного комплекса, с помощью которого получены спектры электролюминесценции (ЭЛ) светоизлучающих диодов (СИД). Проведен анализ и исследованы формы спектров ЭЛ СИД с одиночной квантовой ямой на основе модели учитывающей проникновение в двухмерный активный слой InGaN электрического поля от прилегающих к нему барьерных слоев GaN и AlGaN. С помощью данной модели получены значения эффективной ширины запрещенной зоны, уровня Ферми, параметра экспоненциального хвоста плотности состояния.

item.page.description-other

Description

Citation

Бобученко, Д. С. Спектральное распределение спонтанной электролюминесценции зеленых светоизлучающих диодов / Д. С. Бобученко, Д. С. Доманевский, И. А. Хорунжий, Ю. В. Трофимов, В. И. Цвирко, Р. Д. Каканаков // Приборы и методы измерений : научно-технический журнал = Devices and methods of measurements : Scientific and Engineering Journal / гл. ред. Романюк Ф.А. ; кол. авт. Министерство образования Республики Беларусь ; кол. авт. Белорусский национальный технический университет. – Минск : БНТУ, 2010. – №1. – С.107–112.

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By