Классификация устройств для организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур
Loading...
Files
Authors
item.page.other-contributor
item.page.advisors
item.page.editors
Date
Publisher
item.page.issn
item.page.isbn
item.page.depon
item.page.diss
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
item.page.title-alternative
Classification of devices for the organization of ECB testing in the temperature range
Abstract
Работоспособность электронной аппаратуры в широком диапазоне температур окружающей среды определяется в первую очередь работоспособностью используемой элементной компонентной базы (ЭКБ). В работе приведены обзор и классификация оборудования для тестирования в серийном производстве микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур. Показаны основные характеристики автоматизированных и неавтоматизированных устройств, предназначенных для задания температур при тестировании.
item.page.description-other
The operability of electronic equipment in a wide range of ambient temperatures is determined primarily by the operability of the element component base (ECB) used. The paper provides an overview and classification of equipment for testing in the mass production of microcircuits and semiconductor devices in the temperature range. The main characteristics of automated and non-automated devices designed to set temperatures during testing are shown. Keywords: measurement, testing, microchips, semiconductor devices, temperature range.
Description
Citation
Ефименко, С. А. Классификация устройств для организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур = Classification of devices for the organization of ECB testing in the temperature range / С. А. Ефименко, В. А. Смолич // Приборостроение-2022 : материалы 15-й Международной научно-технической конференции, 16-18 ноября 2022 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2022. – С. 25-27.