https://rep.bntu.by/handle/data/164324 Sat, 27 Jun 2026 03:16:33 GMT 2026-06-27T03:16:33Z https://rep.bntu.by/handle/data/164860 Методика оценки однородности параметров поверхности полупроводниковой структуры Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Дубаневич, А. В. Sat, 01 Jan 2011 00:00:00 GMT https://rep.bntu.by/handle/data/164860 2011-01-01T00:00:00Z https://rep.bntu.by/handle/data/164857 Датчик поверхности для сканирующего ближнеполевого микроскопа Ясинский, В. М.; Смирнов, А. Г.; Рыжевич, А. А. Sat, 01 Jan 2011 00:00:00 GMT https://rep.bntu.by/handle/data/164857 2011-01-01T00:00:00Z https://rep.bntu.by/handle/data/164854 Испытания программного обеспечения средств измерений Шабанов, М. В. Sat, 01 Jan 2011 00:00:00 GMT https://rep.bntu.by/handle/data/164854 2011-01-01T00:00:00Z https://rep.bntu.by/handle/data/164851 Классификационная таблица оптико-физических схем гироскопов на волнах де Бройля Трибулев, Н. В.; Биденко, А. И.; Волынцев, А. А.; Кробка, Н. И.; Черниченко, В. С. Sat, 01 Jan 2011 00:00:00 GMT https://rep.bntu.by/handle/data/164851 2011-01-01T00:00:00Z