Приборостроение-2011 https://rep.bntu.by/handle/data/164324 2026-06-27T03:17:18Z Методика оценки однородности параметров поверхности полупроводниковой структуры https://rep.bntu.by/handle/data/164860 Методика оценки однородности параметров поверхности полупроводниковой структуры Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Дубаневич, А. В. 2011-01-01T00:00:00Z Датчик поверхности для сканирующего ближнеполевого микроскопа https://rep.bntu.by/handle/data/164857 Датчик поверхности для сканирующего ближнеполевого микроскопа Ясинский, В. М.; Смирнов, А. Г.; Рыжевич, А. А. 2011-01-01T00:00:00Z Испытания программного обеспечения средств измерений https://rep.bntu.by/handle/data/164854 Испытания программного обеспечения средств измерений Шабанов, М. В. 2011-01-01T00:00:00Z Классификационная таблица оптико-физических схем гироскопов на волнах де Бройля https://rep.bntu.by/handle/data/164851 Классификационная таблица оптико-физических схем гироскопов на волнах де Бройля Трибулев, Н. В.; Биденко, А. И.; Волынцев, А. А.; Кробка, Н. И.; Черниченко, В. С. 2011-01-01T00:00:00Z